アルミニウム薄膜の製造方法
国内特許コード | P120007522 |
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整理番号 | S2010-1110 |
掲載日 | 2012年5月14日 |
出願番号 | 特願2011-189748 |
公開番号 | 特開2012-072495 |
登録番号 | 特許第5692726号 |
出願日 | 平成23年8月31日(2011.8.31) |
公開日 | 平成24年4月12日(2012.4.12) |
登録日 | 平成27年2月13日(2015.2.13) |
優先権データ |
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発明者 |
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出願人 |
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発明の名称 | アルミニウム薄膜の製造方法 |
発明の概要 |
【課題】真空蒸着によるドライな条件で、化学薬品を使用することなく、廃棄物の排出を抑えながら極めて大きな比表面積を有するアルミニウム薄膜を実現する。 【解決手段】高真空中で、蒸着温度460℃以上520℃以下、蒸着速度0.5nm/s以上10.0nm/s以下の成膜条件で、アルミニウム基板上に蒸着法によりアルミニウムを成膜し、直径が0.7μm以上1.5μm以下であって先端尖状の柱状とされた複数の各々孤立したアルミニウム粒子から構成され、前記各アルミニウム粒子間には貫通した空隙が形成されており、凹凸状の表面を有するアルミニウム薄膜を形成する。 【選択図】図18 |
従来技術、競合技術の概要 |
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産業上の利用分野 |
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特許請求の範囲 |
【請求項1】 アルミニウム基板上に真空蒸着法によりアルミニウム薄膜を形成する方法であって、 1.4×10-6Torr以上3.1×10-6Torr以下の真空度で、蒸着温度を460℃以上520℃以下とするとともに、 蒸着速度を0.5nm/s以上10.0nm/s以下として、前記アルミニウム薄膜を形成することを特徴とするアルミニウム薄膜の製造方法。 |
国際特許分類(IPC) |
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Fターム | |
画像
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出願権利状態 | 登録 |
英語項目の表示
発明の名称 | ALUMINUM THIN FILM, METHOD FOR PRODUCING THE SAME, ELECTROLYTIC CAPACITOR, CATALYTIC METAL FILM, AND SEPARATION ELEMENT |
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発明の概要 |
PROBLEM TO BE SOLVED: To produce an aluminum thin film having an extremely large specific surface area under a dry condition by vacuum vapor deposition, without using chemicals, while restraining discharge of waste materials. SOLUTION: The aluminum thin film is formed by depositing an aluminum film on an aluminum substrate in high vacuum under such conditions that the vapor deposition temperature is 460-520°C and the vapor deposition rate is 0.5-10.0 nm/s, by a vapor deposition method. The aluminum thin film is constituted of a plurality of isolated aluminum particles each having a columnar shape with a sharpened tip and a diameter of 0.7-1.5 μm, wherein a penetrated void is formed between respective aluminum particles, and has an uneven surface. |
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『 アルミニウム薄膜の製造方法』に関するお問合せ
- 国立大学法人 鹿児島大学 産学・地域共創センター知的財産・リスクマネジメント部門
- URL: http://www.rdc.kagoshima-u.ac.jp/
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E-mail:
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- TEL: 099-285-3881
- FAX: 099-285-3886